Tra cứu Tiêu chuẩn
Tìm thấy 190 kết quả.
Searching result
21 |
TCVN 12670-14:2020An toàn sản phẩm laser – Phần 14: Hướng dẫn sử dụng Safety of laser products – Part 14: A user’s guide |
22 |
TCVN 12670-1:2020An toàn sản phẩm laser – Phần 1: Phân loại thiết bị và các yêu cầu Safety of laser products – Part 1: Equipment classification and requirements |
23 |
TCVN 13081-1:2020Thành phần điện tử – Bảo quản lâu dài các linh kiện bán dẫn điện tử – Phần 1: Quy định chung Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 1: General |
24 |
TCVN 13082-1:2020Chiết áp dùng trong thiết bị điện tử – Phần 1: Quy định kỹ thuật chung Potentiometers for use in electronic equipment – Part 1: Generic specification |
25 |
TCVN 13082-2:2020Chiết áp dùng trong thiết bị điện tử – Phần 2: Quy định kỹ thuật từng phần – Chiết áp tác động bằng vít dẫn và đặt trước kiểu quay Potentiometers for use in electronic equipment – Part 2: Sectional specification – Lead-screw actuated and rotary preset potentiometers |
26 |
TCVN 13082-5:2020Chiết áp dùng trong thiết bị điện tử – Phần 5: Quy định kỹ thuật từng phần – Chiết áp kiểu quấn dây và kiểu không quấn dây công suất thấp kiểu xoay một vòng Potentionmeters for use in electronic equipment – Part 5: Sectional specification – Single-turn rotary low-power wirewound and non-wirewound potentiometers |
27 |
TCVN 13082-6:2020Chiết áp dùng trong thiết bị điện tử – Phần 6: Quy định kỹ thuật từng phần – Chiết áp lắp trên bề mặt đặt trước Potentiometers for use in electronic equipment – Part 6: Sectional specification – Surface mount preset potentiometers |
28 |
TCVN 9897-1:2020Điện trở phi tuyến dùng trong thiết bị điện tử – Phần 1: Quy định kỹ thuật chung Varistors for use in electronic equipment - Part 1: Generic specification |
29 |
|
30 |
TCVN 12215:2018Dãy số ưu tiên dùng cho điện trở và tụ điện Preferred number series for resistors and capacitors |
31 |
TCVN 12216:2018Phương pháp đo độ không tuyến tính của điện trở Method of measurement of non-linearity in resistors |
32 |
TCVN 11344-5:2018Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 5: Thử nghiệm tuổi thọ thiên áp độ ẩm nhiệt độ ổn định Semiconductor devices – Mechanicaland climatictest methods – Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test |
33 |
TCVN 11344-20:2018Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 20: Khả năng chịu đựng của các linh kiện gắn kết bề mặt bọc nhựa đối với ảnh hưởng kết hợp giữa độ ẩm và nhiệt hàn Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat |
34 |
TCVN 11344-24:2018Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 24: Khả năng chịu ẩm tăng tốc – Thử nghiệm ứng suất tăng tốc cao không thiên áp Semiconductor devices – Mechanical and climatictest methods – Part 24: Accelerated moisture resistance – Unbiased HAST |
35 |
TCVN 11344-25:2018Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 25: Thay đổi nhiệt đ theo chu kỳ Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 25: Temperature cycling |
36 |
TCVN 11344-28:2018Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 28: Thử nghiệm độ nhạy cảm với phóng điện tĩnh điện – Mô hình linh kiện tích điện – Mức linh kiện Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Charged device model (CDM) –device level |
37 |
TCVN 11344-29:2018Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 29: Thử nghiệm chốt máy Semiconductor devices – Mechanicaland climatictest methods – Part 29: Latch-up test |
38 |
TCVN 11344-31:2018Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 31: Khả năng cháy của linh kiện bọc nhựa (bắt nguồn từ bên trong) Semiconductor devices – Mechanical and climatictest methods – Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced) |
39 |
TCVN 11344-33:2018Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 33: Khả năng chịu ẩm tăng tốc – Nồi hấp không thiên áp Semiconductor devices – Mechanical and climatictest methods – Part 33: Accelerated moisture resistance – Unbiased autoclave |
40 |
TCVN 11344-36:2018Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 36: Gia tốc, trạng thái ổn định Semiconductor devices – Mechanicaland climatictest methods – Part 36: Acceleration, steady state |