Tiêu chuẩn quốc gia
© VSQI - Bản quyền xuất bản thuộc về Viện Tiêu chuẩn chất lượng Việt Nam
_8*L9G3L4G0G0L0**R1R5R8R4R6R6*
Số hiệu
Standard Number
TCVN 11344-29:2018
Năm ban hành 2018
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực (Active)
Status |
Tên tiếng Việt
Title in Vietnamese Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 29: Thử nghiệm chốt máy
|
Tên tiếng Anh
Title in English Semiconductor devices – Mechanicaland climatictest methods – Part 29: Latch-up test
|
Tiêu chuẩn tương đương
Equivalent to IEC 60749-29:2011
IDT - Tương đương hoàn toàn |
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field
31.080.01 - Thiết bị bán dẫn nói chung
|
Số trang
Page 29
Giá:
Price
Bản Giấy (Paper): 150,000 VNĐ
Bản File (PDF):348,000 VNĐ |
Phạm vi áp dụng
Scope of standard Tiêu chuẩn này bao gồm thử nghiệm I và thử nghiệm chốt máy quá điện áp các mạch tích hợp.
Thử nghiệm này là thử nghiệm phá hủy. Mục đích của thử nghiệm này là để thiết lập phương pháp xác định các đặc tính chốt máy mạch tích hợp (IC) và xác định các tiêu chí hỏng chốt máy. Các đặc tính chốt máy được sử dụng để xác định độ tin cậy của sản phẩm và giảm thiểu hiện tượng các sự có “không tìm thấy hỏng hóc” (NTF) và “quá ứng suất điện” (EOS) do chốt máy. Phương pháp thử nghiệm này chủ yếu áp dụng cho các linh kiện CMOS. Khả năng áp dụng các công nghệ phải được thiết lập. Việc phân loại chốt máy như một hàm của nhiệt độ được quy định tại 3.1 và các tiêu chí mức hỏng được quy định tại 3.2 |
Quyết định công bố
Decision number
4177/QĐ-BKHCN , Ngày 28-12-2018
|