Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 37: Phương pháp thử nghiệm thả rơi tấm mạch nằm ngang sử dụng gia tốc kế

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 5: Phương pháp lồng Faraday trên bàn thử

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 5: Workbench Faraday cage method

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 28: Thử nghiệm độ nhạy cảm với phóng điện tĩnh điện – Mô hình linh kiện tích điện – Mức linh kiện

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Charged device model (CDM) –device level