Tra cứu Tiêu chuẩn

© VSQI - Bản quyền xuất bản thuộc về Viện Tiêu chuẩn chất lượng Việt Nam

Standard number

Title

Equivalent to

TCXD transfered to TCVN

Validation Status

Year

đến/to

By ICS

 

Decision number

Core Standard

Số bản ghi

Number of records

Sắp xếp

Sort


Tìm thấy 18.979 kết quả.

Searching result

4781

TCVN 11345-21:2016

Thiết bị đo điện (xoay chiều) – Yêu cầu chung, thử nghiệm và điều kiện thử nghiệm – Phần 21: Thiết bị được điều khiển theo biểu giá và phụ tải

Electricity metering equipment (AC) – General requirements, tests and test conditions – Part 21: Tariff and load control equipment

4782

TCVN 11345-11:2016

Thiết bị đo điện (xoay chiều) – Yêu cầu chung, thử nghiệm và điều kiện thử nghiệm – Phần 11: Công tơ điện

Electricity metering equipment (AC) – General requirements, tests and test conditions – Part 11: Metering equipment

4783

TCVN 11344-9:2016

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 9: Độ bền ghi nhãn

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 9: Permanence of marking

4784

TCVN 11344-7:2016

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 7: Đo hàm lượng ẩm bên trong và phân tích các khí còn lại khác

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

4785

TCVN 11344-6:2016

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 1: Yêu cầu chung – Phần 6: Lưu kho ở nhiệt độ cao

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 6: Storage at high temperature

4786

TCVN 11344-42:2016

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 42: Nhiệt độ và độ ẩm lưu kho

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 42: Temperature and humidity storage

4787

TCVN 11344-40:2016

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 40: Phương pháp thử nghiệm thả rơi tấm mạch sử dụng băng đo biến dạng

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 40: Board level drop test method using a strain gauge

4788

TCVN 11344-34:2016

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 34: Thay đổi công suất theo chu kỳ

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 34: Power cycling

4789

TCVN 11344-30:2016

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 30: Ổn định sơ bộ các linh kiện gắn kết bề mặt không kín khí trước thử nghiệm độ tin cậy

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 30: Preconditioning of non– hermetic surface mount devices prior to reliability testing

4790

TCVN 11344-27:2016

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu –Phần 27: Thử nghiệm độ nhạy với phóng tĩnh điện (ESD) – Mô hình máy (MM)

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Machine model (MM)

4791

TCVN 11344-21:2016

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 21: Tính dễ hàn

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 21: Solderability

4792

TCVN 11344-1:2016

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 1: Yêu cầu chung

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 1: General

4793

TCVN 11342-9:2016

Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 9: Đo miễn nhiễm bức xạ – Phương pháp quét bề mặt

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 9: Measurement of radiated immunity – Surface scan method

4794

TCVN 11342-8:2016

Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 8: Đo miễn nhiễm bức xạ – Phương pháp mạch dải IC

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 8: Measurement of radiated immunity – IC stripline method

4795

TCVN 11342-5:2016

Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 5: Phương pháp lồng Faraday trên bàn thử

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 5: Workbench Faraday cage method

4796

TCVN 11342-4:2016

Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 4: Phương pháp bơm trực tiếp công suất RF

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 4: Direct RF p ower injection method

4797

TCVN 11342-3:2016

Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 3: Phương pháp bơm dòng điện lớn

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 3: Bulk current injection (BCI) m ethod

4798

TCVN 11342-2:2016

Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 2: Đo miễn nhiễm bức xạ – Phương pháp buồng TEM và buồng TEM băng tần rộng

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 2: Measurement of radiated immunity – TEM cell and wideband TEM cell method

4799

TCVN 11342-1:2016

Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ –Phần 1: Điều kiện chung và định nghĩa

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 1: General conditions and definitions

4800

TCVN 11341-3:2016

Cáp điện – Cáp có cách điện và vỏ bọc bằng nhựa nhiệt dẻo, không có halogen, ít khói, có điện áp danh định đến và bằng 450/750 V – Phần 3: Cáp mềm (dây mềm)

Electric cables – Halogen– free, low smoke, thermoplastic insulated and sheathed cables of rated voltages up to and including 450/750 V – Part 3: Flexible cables (cords)

Tổng số trang: 949