Tra cứu Tiêu chuẩn
Tìm thấy 8 kết quả.
Searching result
| 1 |
TCVN 11342-9:2016Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 9: Đo miễn nhiễm bức xạ – Phương pháp quét bề mặt Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 9: Measurement of radiated immunity – Surface scan method |
| 2 |
TCVN 11342-8:2016Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 8: Đo miễn nhiễm bức xạ – Phương pháp mạch dải IC Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 8: Measurement of radiated immunity – IC stripline method |
| 3 |
TCVN 11342-5:2016Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 5: Phương pháp lồng Faraday trên bàn thử Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 5: Workbench Faraday cage method |
| 4 |
TCVN 11342-4:2016Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 4: Phương pháp bơm trực tiếp công suất RF Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 4: Direct RF p ower injection method |
| 5 |
TCVN 11342-3:2016Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 3: Phương pháp bơm dòng điện lớn Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 3: Bulk current injection (BCI) m ethod |
| 6 |
TCVN 11342-2:2016Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 2: Đo miễn nhiễm bức xạ – Phương pháp buồng TEM và buồng TEM băng tần rộng Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 2: Measurement of radiated immunity – TEM cell and wideband TEM cell method |
| 7 |
TCVN 11342-1:2016Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ –Phần 1: Điều kiện chung và định nghĩa Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 1: General conditions and definitions |
| 8 |
TCVN 8095-521:2009Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế. Phần 521: Linh kiện bán dẫn và mạch tích hợp International Electrotechnical Vocabulary. Part 521: Semiconductor devices and integrated circuits |
Tổng số trang: 1
