Tiêu chuẩn quốc gia

• Số hiệu / Standard Number: TCVN 11342-9:2016
• Năm ban hành / Publication date: 2016
• Tình trạng / Status: A - Còn hiệu lực (Active)
• Tên tiếng Việt / Title in Vietnamese: Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 9: Đo miễn nhiễm bức xạ – Phương pháp quét bề mặt
• Tên tiếng Anh / Title in English: Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 9: Measurement of radiated immunity – Surface scan method
• Tiêu chuẩn tương đương / Equivalent to: IEC/TS 62132-9:2014 ; IDT - Tương đương hoàn toàn
• Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS) / By field: 31.200 - Mạch tổ hợp. Vi điện tử
• Số trang / Page: 28
• Phạm vi áp dụng / Scope of standard: Tiêu chuẩn này cung cấp một quy trình thử nghiệm xác định phương pháp đánh giá ảnh hưởng của các thành phần trường điện, trường từ và trường điện từ gần lên mạch tích hợp (IC). Quy trình chẩn đoán này được thiết kế để phân tích về mặt kiến trúc IC như lập kế hoạch bề mặt và tối ưu hóa phân bổ công suất. Quy trình này áp dụng được cho việc thử nghiệm một IC được gắn kết trên tấm mạch bất kỳ mà đầu dò quét có thể tiếp cận. Trong một số trường hợp, không chỉ quét IC là có ích mà quét môi trường của nó cũng vậy. Để so sánh miễn nhiễm quét bề mặt giữa các IC khác nhau, nên sử dụng tấm mạch in thử nghiệm tiêu chuẩn được định nghĩa trong IEC 62132– 1. ; Phương pháp đo này cung cấp một ánh xạ của độ nhạy (tính miễn nhiễm) với nhiễu trường điện hoặc trường từ gần lên IC. Độ phân giải của thử nghiệm được xác định bởi khả năng của đầu dò thử nghiệm và tính chính xác của hệ thống định vị đầu dò. Phương pháp này được thiết kế để sử dụng ở tần số tới 6 GHz. Việc mở rộng giới hạn trên của tần số là có thể với công nghệ đầu dò hiện tại nhưng vượt ra ngoài phạm vi của quy định kỹ thuật này. Các thử nghiệm mô tả trong tài liệu này được thực hiện trong miền tần số sử dụng các tín hiệu sóng liên tục (CW), điều chế biên độ (AM) hoặc điều chế xung (PM).
• Tiêu chuẩn viện dẫn / Nomative references: Các tài liệu sau đây là cần thiết để áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi (nếu có).; IEC 60050 (all parts), International Electrotechnical Vocabulary (available at http://www.electropedia.org) (Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế). ; IEC 62131-1:2006, Integrated circuits-Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz-Part 1:General conditions and definitions (Mạch tích hợp-Đo miễn nhiễm điện từ, 150 kHz đến 1 GHz-Phần 1:Điều kiện chung và định nghĩa); IEC TS 61967-3, Integrated circuits-Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz-Part 3:Measurement of radiated emission-Surface scan method (Mạch tích hợp-Đo phát xạ điện từ, 150 kHz đến 1 GHz-Phần 3:Đo phát xạ bức xạ-Phương pháp quét bề mặt).
• Quyết định công bố / Decision number: 4288/QĐ-BKHCN , Ngày 30-12-2016