Tiêu chuẩn quốc gia

© VSQI - Bản quyền xuất bản thuộc về Viện Tiêu chuẩn chất lượng Việt Nam

_8*L9G3L4G0G0L0**R1R6R9R6R1R5*
Số hiệu

Standard Number

TCVN 11344-38:2020
Năm ban hành 2020

Publication date

Tình trạng A - Còn hiệu lực (Active)

Status

Tên tiếng Việt

Title in Vietnamese

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 38: Phương pháp thử nghiệm lỗi mềm dùng cho các linh kiện bán dẫn có bộ nhớ
Tên tiếng Anh

Title in English

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory 1
Tiêu chuẩn tương đương

Equivalent to

IEC 60749-38:2008
IDT - Tương đương hoàn toàn
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)

By field

31.080.01 - Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang

Page

17
Giá:

Price

Bản Giấy (Paper): 100,000 VNĐ
Bản File (PDF):204,000 VNĐ
Phạm vi áp dụng

Scope of standard

Tiêu chuẩn này thiết lập một quy trình đo độ nhạy với lỗi mềm của các linh kiện bán dẫn có bộ nhớ khi
chịu tác động của các hạt năng lượng cao như bức xạ alpha. Hai thử nghiệm được mô tả; thử nghiệm
tăng tốc sử dụng nguồn bức xạ alpha và thử nghiệm hệ thống thời gian thực (không tăng tốc) mà ở đó
bất kỳ lỗi nào cũng được tạo ra trong điều kiện bức xạ xảy ra trong tự nhiên, có thể là bức xạ alpha
hoặc không phải bức xạ, ví dụ như nơtron. Để xác định hoàn toàn đặc tính khả năng lỗi mềm của mạch
tích hợp có bộ nhớ, linh kiện phải được kiểm tra đối với phổ rộng năng lượng cao và các nơtron nhiệt
bằng cách sử dụng các phương pháp thử nghiệm bổ sung. Phương pháp thử nghiệm này được phép
áp dụng cho bất kỳ loại mạch tích hợp nào có linh kiện nhớ.
Quyết định công bố

Decision number

3942/QĐ-BKHCN , Ngày 31-12-2020
Cơ quan biên soạn

Compilation agency

TCVN/TC/E3