Tiêu chuẩn quốc gia
© VSQI - Bản quyền xuất bản thuộc về Viện Tiêu chuẩn chất lượng Việt Nam
_8*L9G3L4G0G0L0**R1R6R9R6R1R5*
Số hiệu
Standard Number
TCVN 11344-38:2020
Năm ban hành 2020
Publication date
Tình trạng
A - Còn hiệu lực (Active)
Status |
Tên tiếng Việt
Title in Vietnamese Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 38: Phương pháp thử nghiệm lỗi mềm dùng cho các linh
kiện bán dẫn có bộ nhớ
|
Tên tiếng Anh
Title in English Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
1
|
Tiêu chuẩn tương đương
Equivalent to IEC 60749-38:2008
IDT - Tương đương hoàn toàn |
Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS)
By field
31.080.01 - Thiết bị bán dẫn nói chung
|
Số trang
Page 17
Giá:
Price
Bản Giấy (Paper): 100,000 VNĐ
Bản File (PDF):204,000 VNĐ |
Phạm vi áp dụng
Scope of standard Tiêu chuẩn này thiết lập một quy trình đo độ nhạy với lỗi mềm của các linh kiện bán dẫn có bộ nhớ khi
chịu tác động của các hạt năng lượng cao như bức xạ alpha. Hai thử nghiệm được mô tả; thử nghiệm tăng tốc sử dụng nguồn bức xạ alpha và thử nghiệm hệ thống thời gian thực (không tăng tốc) mà ở đó bất kỳ lỗi nào cũng được tạo ra trong điều kiện bức xạ xảy ra trong tự nhiên, có thể là bức xạ alpha hoặc không phải bức xạ, ví dụ như nơtron. Để xác định hoàn toàn đặc tính khả năng lỗi mềm của mạch tích hợp có bộ nhớ, linh kiện phải được kiểm tra đối với phổ rộng năng lượng cao và các nơtron nhiệt bằng cách sử dụng các phương pháp thử nghiệm bổ sung. Phương pháp thử nghiệm này được phép áp dụng cho bất kỳ loại mạch tích hợp nào có linh kiện nhớ. |
Quyết định công bố
Decision number
3942/QĐ-BKHCN , Ngày 31-12-2020
|
Cơ quan biên soạn
Compilation agency
TCVN/TC/E3
|