Tiêu chuẩn quốc gia

• Số hiệu / Standard Number: TCVN 11344-34:2016
• Năm ban hành / Publication date: 2016
• Tình trạng / Status: A - Còn hiệu lực (Active)
• Tên tiếng Việt / Title in Vietnamese: Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 34: Thay đổi công suất theo chu kỳ
• Tên tiếng Anh / Title in English: Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 34: Power cycling
• Tiêu chuẩn tương đương / Equivalent to: IEC 60749-34:2010 ; IDT - Tương đương hoàn toàn
• Chỉ số phân loại Quốc tế (ICS) / By field: 31.080.01 - Thiết bị bán dẫn nói chung
• Số trang / Page: 11
• Phạm vi áp dụng / Scope of standard: Tiêu chuẩn này mô tả phương pháp thử nghiệm dùng để xác định độ bền của linh kiện bán dẫn đối với các ứng suất nhiệt và cơ do tiêu hao công suất thay đổi theo chu kỳ trong lớp bán dẫn bên trong và các kết nối bên trong. Điều này xảy ra khi các thiên áp làm việc thấp để dẫn điện theo chiều thuận (các dòng điện tải) được đặt vào và loại bỏ theo chu kỳ, gây ra các thay đổi nhanh chóng về nhiệt độ. Thử nghiệm thay đổi công suất theo chu kỳ nhằm mô phỏng các ứng dụng điển hình trong các linh kiện điện tử công suất và bổ sung cho tuổi thọ vận hành ở nhiệt độ cao (xem IEC 60749– 23). Cho chịu thử nghiệm này có thể không gây ra các cơ chế hư hại giống như cho chịu thay đổi nhiệt độ theo chu kỳ từ môi trường không khí này sang môi trường không khí khác, hoặc cho chịu nhiệt độ thay đổi nhanh chóng bằng cách sử dụng phương pháp hai lần nhúng trong chất lưu. Thử nghiệm này gây ra hư hại và được xem là thử nghiệm phá hủy.; CHÚ THÍCH: Thử nghiệm này không phải là dự định của quy định kỹ thuật để cung cấp mô hình dự đoán đánh giá tuổi thọ của linh kiện
• Tiêu chuẩn viện dẫn / Nomative references: Các tài liệu sau đây là cần thiết để áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi (nếu có).; IEC 60747-1:2006, Semiconductor devices-Part 1:General (Linh kiện bán dẫn-Phần 1:Yêu cầu chung).; IEC 60747-2:2000, Semiconductor devices-Discrete devices and integrated circuits-Part 2. Rectifier diodes (Linh kiện bán dẫn-Linh kiện rời và mạch tích hợp-Phần 2:Điốt chỉnh lưu).; IEC 60747-6:2000, Semiconductor devices-Part 6:Thyristors (Linh kiện bán dẫn-Phần 6:Thyristor).; IEC 60749-3, Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 3:External visual examination (Linh kiện bán dẫn-Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu-Phần 3:Xem xét bên ngoài bằng mắt).; IEC 60749-23, Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 23:High temperature operating life (Linh kiện bán dẫn-Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu-Phần 23:Tuổi thọ làm việc ở nhiệt độ cao).
• Quyết định công bố / Decision number: 4276/QĐ-BKHCN , Ngày 30-12-2016