Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 44: Phương pháp thử nghiệm hiệu ứng sự kiện đơn lẻ được chiếu xạ bởi chùm tia nơtron dùng cho các linh kiện bán dẫn

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices