Tụ điện công suất nối song song dùng cho hệ thống điện xoay chiều có điện áp danh định lớn hơn 1 000 V. Phần 4: Cầu chảy bên trong

Shunt capacitors for AC power systems having a rated voltage above 1 000 V - Part 4: Internal fuses

Tranzito ST 601, ST 603, ST 605

Transistors ST 601, ST 603, ST 605

Điện trở. Yêu cầu chung khi đo các thông số điện

Resistors. Measurement methods for electrical parameters. General requirements

Điện trở không đổi dùng trong thiết bị điện tử. Phần 1: Yêu cầu kỹ thuật chung

Fixed resistors for use in electronic equipment. Part 1: Generic specification

Khối lắp ráp tấm mạch in – Phần 3: Quy định kỹ thuật từng phần – Yêu cầu đối với khối lắp ráp hàn gắn kết lỗ xuyên

Printed board assemblies – Part 3: Sectional specification – Requirements for through– hole mount soldered assemblies

Tranzito. Phương pháp đo hệ số truyền đạt dòng tĩnh trong mạch emitơ chung

Transistors. Methods of measurement of static current transfer

Điện trở phi tuyến dùng trong thiết bị điện tử – Phần 1: Quy định kỹ thuật chung

Varistors for use in electronic equipment - Part 1: Generic specification

Điện trở phi tuyến dùng trong thiết bị điện tử. Phần 2: Quy định kỹ thuật từng phần đối với điện trở phi tuyến chặn đột biến

Varistors for use in electronic equipment. Part 2: Sectional specification for surge suppression varistors

Tụ điện biến đổi điện môi màng

Film dielectric variable capacitors. Specifications

Linh kiện điện tử. Quy tắc nghiệm thu

Electronic devices. Acceptance rules

Tụ điện có điện dung không đổi. Phương pháp đo tổng trở

Monstant capacitors. Measuring methods for impedance

Sản phẩm kỹ thuật điện tử. Ghi nhãn

Electronic equipments. Marking

Khối lắp ráp tấm mạch in – Phần 2: Quy định kỹ thuật từng phần – Yêu cầu đối với khối lắp ráp hàn gắn kết bề mặt

Printed board assemblies – Part 2: Sectional specification – Requirements for surface mount soldered assemblies

Thành phần điện tử – Bảo quản lâu dài các linh kiện bán dẫn điện tử – Phần 1: Quy định chung

Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 1: General