Mạch tích hợp – Đo miễn nhiễm điện từ – Phần 9: Đo miễn nhiễm bức xạ – Phương pháp quét bề mặt

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 9: Measurement of radiated immunity – Surface scan method

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 38: Phương pháp thử nghiệm lỗi mềm dùng cho các linh kiện bán dẫn có bộ nhớ

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory 1

Xăng hàng không và xăng động cơ thành phẩm - Xác định benzen và toluen bằng phương pháp sắc ký khí

Standard test method for determination of benzene and toluene in finished motor and aviation gasoline by gas chromatography

Hệ thống mã dùng cho điện trở và tụ điện

Marking codes for resistors and capacitors

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 44: Phương pháp thử nghiệm hiệu ứng sự kiện đơn lẻ được chiếu xạ bởi chùm tia nơtron dùng cho các linh kiện bán dẫn

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 39: Đo độ khuếch tán ẩm và khả năng hòa tan của nước trong các vật liệu hữu cơ sử dụng cho các thành phần bán dẫn

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components